Tesi etd-10042005-161934 |
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Tipo di tesi
Tesi di laurea vecchio ordinamento
Autore
Lombardi, Giacinto
Indirizzo email
lombardigiacinto@inwind.it
URN
etd-10042005-161934
Titolo
Studio preliminare di metodi optoelettronici per l'analisi delle superfici in materiale lapideo
Dipartimento
INGEGNERIA
Corso di studi
INGEGNERIA MECCANICA
Relatori
relatore Prof. Lanzetta, Michele
relatore Dott. Gentile, Santo
relatore Prof. Tantussi, Giovanni
relatore Dott. Gentile, Santo
relatore Prof. Tantussi, Giovanni
Parole chiave
- lapideo
- riflettometria
- marmo
- qualità superficiale
- optoelettronica
Data inizio appello
25/10/2005
Consultabilità
Completa
Riassunto
Il presente lavoro illustra lo studio preliminare di un metodo innovativo per l'analisi delle superfici in materiale lapideo. Per la realizzazione di tale ricerca, sono stati utilizzati sistemi di visione artificiale ed
optoelettronici.
La tesi è articolata in tre parti principali:
- stato dell'arte: analisi delle metodologie esistenti applicate alla rilevazione di caratteristiche superficiali di corpi solidi piani;
- ideazione e sviluppo di attrezzatura specifica per analisi di riflettometria;
- identificazione di caratteristiche superficiali.
optoelettronici.
La tesi è articolata in tre parti principali:
- stato dell'arte: analisi delle metodologie esistenti applicate alla rilevazione di caratteristiche superficiali di corpi solidi piani;
- ideazione e sviluppo di attrezzatura specifica per analisi di riflettometria;
- identificazione di caratteristiche superficiali.
File
| Nome file | Dimensione |
|---|---|
| Abstract.pdf | 33.16 Kb |
| BIBLIOGRAFIA.pdf | 47.83 Kb |
| Capitolo_1.pdf | 671.29 Kb |
| Capitolo_2.pdf | 541.92 Kb |
| Capitolo_3.pdf | 291.27 Kb |
| Capitolo_4.pdf | 163.38 Kb |
| Capitolo_5.pdf | 2.63 Mb |
| Capitolo_6.pdf | 4.05 Mb |
| conclusioni.pdf | 70.43 Kb |
| Frontespizio.pdf | 60.97 Kb |
| INDICE.pdf | 42.07 Kb |
| Introduzione.pdf | 28.04 Kb |
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