Tesi etd-09062021-104924 |
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Tipo di tesi
Tesi di laurea magistrale
Autore
D'AMICO, FRANCESCO
URN
etd-09062021-104924
Titolo
Progettazione, fabbricazione e caratterizzazione di microspecchi a larga banda in silicio nanostrutturato con approccio GRIN (Graded Refractive INdex)
Dipartimento
INGEGNERIA DELL'INFORMAZIONE
Corso di studi
INGEGNERIA ELETTRONICA
Relatori
relatore Prof. Barillaro, Giuseppe
relatore Ing. Paghi, Alessandro
relatore Ing. Paghi, Alessandro
Parole chiave
- distributed bragg reflector
- gradient refractive index
- microcavità
- microcavity
- nanofotonica
- nanophotonics
- nanostructured silicon
- porous silicon
- silicio nanostrutturato
- silicio poroso
- silicon photonics
Data inizio appello
24/09/2021
Consultabilità
Non consultabile
Data di rilascio
24/09/2091
Riassunto
Il lavoro di tesi magistrale tratta la progettazione, fabbricazione e caratterizzazione di filtri ottici in silicio poroso nanostrutturato. La progettazione e simulazione è stata effettuata in ambiente Matlab utilizzando il metodo delle matrici di trasferimento (TMM). La nanostrutturazione del silicio è stata realizzata attraverso un processo di etching elettrochimico di un wafer di silicio di tipo p++ ed ha permesso di ottenere differenti tipologie di strutture fotoniche, semplici e complesse, come microspecchi (p.e., Distributed Bragg Reflectors - DBR) e microcavità risonanti. è stato quindi utilizzato un processo di ossidazione termica in atmosfera ambiente, al fine di convertire completamente il silicio in ossido di silicio per ridurre il coefficiente di assorbimento del silicio e abilitare l’uso dei filtri nanostrutturati anche nel visibile.
le strutture fabbricate sono dunque state caratterizzate mediante spettroscopia in riflettanza nel range 400-1000 nm al fine di misurarne il comportamento spettrale. Per poter valutare le performance dei filtri nanostrutturati anche in trasmissione è stato necessario eseguire una procedura di trasferimento, nota come “transfer-printing”, del filtro dal substrato di silicio ad un substrato di PDMS, polimero trasparente e flessibile. I filtri sono stati quindi caratterizzati mediante spettroscopia in trasmittanza, al fine di misurarne lo spettro di trasmissione nel range 400-1000 nm.
Infine, i risultati sperimentali sono stati confrontati con quelli terorici, in modo da valutare l’accuratezza del processo di fabbricazione sviluppato.
le strutture fabbricate sono dunque state caratterizzate mediante spettroscopia in riflettanza nel range 400-1000 nm al fine di misurarne il comportamento spettrale. Per poter valutare le performance dei filtri nanostrutturati anche in trasmissione è stato necessario eseguire una procedura di trasferimento, nota come “transfer-printing”, del filtro dal substrato di silicio ad un substrato di PDMS, polimero trasparente e flessibile. I filtri sono stati quindi caratterizzati mediante spettroscopia in trasmittanza, al fine di misurarne lo spettro di trasmissione nel range 400-1000 nm.
Infine, i risultati sperimentali sono stati confrontati con quelli terorici, in modo da valutare l’accuratezza del processo di fabbricazione sviluppato.
File
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