• Miscele polimeriche
• Fosforo nero
• Poli(3-esiltiofene-2
• 5-diil)
• Poli(metilmetacrilato)
• Polymer blends
• Black Phosphorus
• Poly(3-hexylthiophene-2
• 5-diyl)
• Poly(methyl methacrylate)

Il presente lavoro di tesi ha previsto la preparazione di miscele polimeriche e in particolare di miscele poli(3-esiltiofene-2,5-diile) (P3HT) and poli(metilmetacrilato) (PMMA) a diverso rapporto in peso contenenti nanostrutture a base di fosforo nero disperse mediante processi di esfoliazione in solventi e/o mediante processi di polimerizzazione in situ. Sono stati, inoltre, preparati compositi del fosforo nero con le singole matrici polimeriche e miscele P3HT/PMMA in assenza del fosforo nero per adeguati confronti. Tutti i compositi contenenti quantità variabili di fosforo nero e con diversi gradi di dispersione sono stati caratterizzati mediante spettroscopia infrarossa, spettroscopia Raman, spettroscopia UV-Vis, spettroscopia NMR allo stato solido, cromatografia di esclusione sterica (SEC), microscopia elettronica a scansione (SEM), microscopia a forza atomica (AFM), calorimetria differenziale a scansione (DSC) e analisi termogravimetrica (TGA) con il fine di valutare gli effetti della dispersione del fosforo nero sulla struttura e sulle proprietà finali, nell’ottica di possibili applicazioni nei campi dell’optoelettronica e della sensoristica.

This thesis deals with the preparation of polymer blends made of poly(3-hexylthiophene-2,5-diyl) (P3HT) and poly(methyl methacrylate) (PMMA) at different weight ratio embedded with black phosphorus nanostructures dispersed by liquid phase exfoliation and/or in situ polymerization. Polymer composites made of black phosphorus and P3HT or PMMA, and P3HT/PMMA blends were also prepared for comparison. Blends and composites, containing different quantity of black phosphorus and having a different degree of dispersion, were characterized through infrared spectroscopy, Raman spectroscopy, UV-Vis spectroscopy, solid state NMR spectroscopy, size-exclusion chromatography (SEC), scanning electron microscopy (SEM), atomic force microscopy (AFM), and also differential scanning calorimetry (DSC) and thermogravimetric analysis (TGA) with the aim of assessing the effects of black phosphorus on the structure and final properties of these materials for possible applications in optoelectronics and sensoristics.