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Lo scopo di questo lavoro di tesi è lo studio preliminare di uno strumento specifico per la simulazione dei SEEs (Single Event Effects), ovvero i fenomeni causati dal passaggio di una singola particella ionizzante, sull'elettronica. In particolare ci si è concentrati sulla simulazione di SET (Singe Event Transient) e SEL (Single Event Latchup). Il sistema si basa sulla risoluzione sia a regime sia in transitorio delle equazioni di drift diffusion e di Poisson mediante l'impiego del framework FEniCS, specifico per la simulazione adattabile agli elementi finiti (FEM). Il problema è stato definito in Python e successivamente convertito e compilato automaticamente in codice C++. Il dominio e le condizioni al contorno sono definiti mediante un CAD opensource chiamato GMSH compatibile con i formati CAD più diffusi. L'inserimento dei dati avviene mediante file di configurazione JSON scritti manualmente, ma uno degli sviluppi futuri è di consentire l'uso di interfaccia grafica dedicata. La simulazione consente l'impiego di modelli sia 2D sia 3D.