Thesis etd-10042005-161934 |
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Thesis type
Tesi di laurea vecchio ordinamento
Author
Lombardi, Giacinto
email address
lombardigiacinto@inwind.it
URN
etd-10042005-161934
Thesis title
Studio preliminare di metodi optoelettronici per l'analisi delle superfici in materiale lapideo
Department
INGEGNERIA
Course of study
INGEGNERIA MECCANICA
Supervisors
relatore Prof. Lanzetta, Michele
relatore Dott. Gentile, Santo
relatore Prof. Tantussi, Giovanni
relatore Dott. Gentile, Santo
relatore Prof. Tantussi, Giovanni
Keywords
- lapideo
- riflettometria
- marmo
- qualità superficiale
- optoelettronica
Graduation session start date
25/10/2005
Availability
Full
Summary
Il presente lavoro illustra lo studio preliminare di un metodo innovativo per l'analisi delle superfici in materiale lapideo. Per la realizzazione di tale ricerca, sono stati utilizzati sistemi di visione artificiale ed
optoelettronici.
La tesi è articolata in tre parti principali:
- stato dell'arte: analisi delle metodologie esistenti applicate alla rilevazione di caratteristiche superficiali di corpi solidi piani;
- ideazione e sviluppo di attrezzatura specifica per analisi di riflettometria;
- identificazione di caratteristiche superficiali.
optoelettronici.
La tesi è articolata in tre parti principali:
- stato dell'arte: analisi delle metodologie esistenti applicate alla rilevazione di caratteristiche superficiali di corpi solidi piani;
- ideazione e sviluppo di attrezzatura specifica per analisi di riflettometria;
- identificazione di caratteristiche superficiali.
File
| Nome file | Dimensione |
|---|---|
| Abstract.pdf | 33.16 Kb |
| BIBLIOGRAFIA.pdf | 47.83 Kb |
| Capitolo_1.pdf | 671.29 Kb |
| Capitolo_2.pdf | 541.92 Kb |
| Capitolo_3.pdf | 291.27 Kb |
| Capitolo_4.pdf | 163.38 Kb |
| Capitolo_5.pdf | 2.63 Mb |
| Capitolo_6.pdf | 4.05 Mb |
| conclusioni.pdf | 70.43 Kb |
| Frontespizio.pdf | 60.97 Kb |
| INDICE.pdf | 42.07 Kb |
| Introduzione.pdf | 28.04 Kb |
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