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Tesi etd-09072011-144542


Thesis type
Tesi di laurea specialistica
Author
CELENTANO, GIOVANNI
URN
etd-09072011-144542
Title
Algoritmi di valutazione di difetti su superfici di materiali e supporto alla loro implementazione tramite sistemi di controllo distribuito
Struttura
INGEGNERIA
Corso di studi
INGEGNERIA INFORMATICA
Commissione
relatore Prof. Foglia, Pierfrancesco
relatore Prof. Prete, Cosimo Antonio
Parole chiave
  • OpenCV
  • error detection
  • controllo distribuito
  • IEC 61499
Data inizio appello
06/10/2011;
Consultabilità
parziale
Data di rilascio
06/10/2051
Riassunto analitico
Nei sistemi industriali moderni, la totale automatizzazione dei processi è uno<br>dei principali obiettivi che gli ingegneri si prefiggono. Nelle aziende produttrici<br>di vetri per forno domestici i test finali, atti a vericare la perfezione dei prodotti,<br>venivano fatti da degli operai specializzati che manipolando il pezzo, sotto<br>opportune fonti luminose, ne individuavano i difetti superficiali, dovuti ad esempio ad errori di stampa.<br>Il nostro lavoro si è focalizzato su degli algoritmi che permettessero, una volta acquisita l&#39;immagine del vetro da analizzare, l&#39;identificazione di eventuali<br>discrepanze dal modello fornito dall&#39;azienda. Questo è stato fatto sfruttando le potenzialità della libreria grafica Intel OpenCV, ampliandone la stessa con delle funzioni innovative necessarie al nostro lavoro. Una volta svolto questo lavoro, ci si è occupati anche dello stadio successivo, cioè quello di analizzare i vari standards e frameworks commerciali per il controllo distribuito delle macchine coinvolte dopo la processazione dell&#39;immagine, come ad esempio<br>i nastri trasportatori.<br>Il nostro studio ha evidenziato come con l&#39;ausilio di telecamere lineari e alcuni algoritmi di edge detection e template matching si possano rilevare<br>la totalità dei difetti che affliggono lastre di vetro colorate, trasparenti o a specchio.<br>Il lavoro compiuto è signicante in quanto rispetto ad un basso costo iniziale per gli strumenti necessari all&#39;acquisizione delle immagini si possono ottenere prestazioni elevate in termini di rilevazione dell&#39;errore.
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