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Tesi etd-09072011-144542


Thesis type
Tesi di laurea specialistica
Author
CELENTANO, GIOVANNI
URN
etd-09072011-144542
Title
Algoritmi di valutazione di difetti su superfici di materiali e supporto alla loro implementazione tramite sistemi di controllo distribuito
Struttura
INGEGNERIA
Corso di studi
INGEGNERIA INFORMATICA
Supervisors
relatore Prof. Foglia, Pierfrancesco
relatore Prof. Prete, Cosimo Antonio
Parole chiave
  • OpenCV
  • error detection
  • controllo distribuito
  • IEC 61499
Data inizio appello
06/10/2011;
Consultabilità
Parziale
Data di rilascio
06/10/2051
Riassunto analitico
Nei sistemi industriali moderni, la totale automatizzazione dei processi è uno
dei principali obiettivi che gli ingegneri si prefiggono. Nelle aziende produttrici
di vetri per forno domestici i test finali, atti a vericare la perfezione dei prodotti,
venivano fatti da degli operai specializzati che manipolando il pezzo, sotto
opportune fonti luminose, ne individuavano i difetti superficiali, dovuti ad esempio ad errori di stampa.
Il nostro lavoro si è focalizzato su degli algoritmi che permettessero, una volta acquisita l'immagine del vetro da analizzare, l'identificazione di eventuali
discrepanze dal modello fornito dall'azienda. Questo è stato fatto sfruttando le potenzialità della libreria grafica Intel OpenCV, ampliandone la stessa con delle funzioni innovative necessarie al nostro lavoro. Una volta svolto questo lavoro, ci si è occupati anche dello stadio successivo, cioè quello di analizzare i vari standards e frameworks commerciali per il controllo distribuito delle macchine coinvolte dopo la processazione dell'immagine, come ad esempio
i nastri trasportatori.
Il nostro studio ha evidenziato come con l'ausilio di telecamere lineari e alcuni algoritmi di edge detection e template matching si possano rilevare
la totalità dei difetti che affliggono lastre di vetro colorate, trasparenti o a specchio.
Il lavoro compiuto è signicante in quanto rispetto ad un basso costo iniziale per gli strumenti necessari all'acquisizione delle immagini si possono ottenere prestazioni elevate in termini di rilevazione dell'errore.
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