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ETD

Archivio digitale delle tesi discusse presso l’Università di Pisa

Tesi etd-04132016-193248

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Tipo di tesi
Tesi di laurea magistrale
URN
etd-04132016-193248
Titolo
Machine Learning techniques for defects prediction in semiconductor manufacturing
Dipartimento
INFORMATICA
Corso di studi
INFORMATICA
Parole chiave
  • machine learning
  • semiconductor manufacturing defects prediction
Data inizio appello
29/04/2016
Consultabilità
Non consultabile
Data di rilascio
29/04/2086
Riassunto (Inglese)
Riassunto (Italiano)
La tesi discute l'analisi di Big Data generati da processi industriali per la produzione di semiconduttori mediante tecniche di Machine Learning, proponendo un approccio integrato che comprende tecniche di: i) analisi esplorativa non-supervisionata /clustering; ii) apprendimento supervisionato per predire la difettività dei componenti prodotti.
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