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Tesi etd-03312008-130939


Tipo di tesi
Tesi di laurea specialistica
Autore
AVAGLIANO, LUIGI
URN
etd-03312008-130939
Titolo
Progetto di superfici selettive in frequenza per la misura di costante dielettrica in guida
Struttura
INGEGNERIA
Corso di studi
INGEGNERIA DELLE TELECOMUNICAZIONI
Commissione
Relatore Prof. Manara, Giuliano
Relatore Prof. Monorchio, Agostino
Parole chiave
  • selettive
  • frequenza
  • permettività
  • superfici
Data inizio appello
21/04/2008;
Disponibilità
parziale
Data di rilascio
2048-04-21
Riassunto analitico
La costante dielettrica, o più propriamente permettività elettrica, è una grandezza fisica che descrive come un campo elettrico influenza ed è influenzato da un mezzo dielettrico. La sua determinazione è di grande interesse da un punto di vista sia teorico sia pratico. Tale grandezza riveste, infatti, un ruolo chiave in applicazioni industriali quali, ad esempio, lo studio di nuovi materiali isolanti per l’elettronica, o nuovi sistemi di trasporto di corrente. Inoltre, lo sviluppo dei dispositivi ad alta frequenza ha ulteriormente spinto la ricerca ad investigare sulle proprietà elettromagnetiche dei materiali. Un’approfondita conoscenza di tali proprietà permette, infatti, di capire l’interazione tra materiali utilizzati ed il loro comportamento elettromagnetico. In applicazioni a microonde il fenomeno è di notevole interesse in quanto spesso alcuni materiali vengono immersi completamente o parzialmente in strutture propaganti. La misura delle proprietà dielettriche di un materiale consiste nel trovare sperimentalmente i valori della permettività elettrica complessa relativa ε*, e della permeabilità magnetica complessa relativa μ *, che caratterizzano il campione in analisi. Le tecniche di misura sono diverse e ciascuna presenta vantaggi e svantaggi rispetto alle altre. Tra le metodologie si trovano anche le così dette wave guide techniques, ossia tecniche di misura effettuate in guida d’onda. Esse trovano i valori delle grandezze fisiche richieste attraverso metodi di inversione dei parametri di scattering del sistema. Tale procedura si dimostra talvolta non immune da errori sulla stima dei valori dovuti principalmente ad una non corretta misura di tali parametri in termini di ampiezza e soprattutto di fase. A causa di quest’ultimo limite, si è pensato di studiare la caratterizzazione dielettrica di alcuni materiali utilizzando un sistema di misura in guida d’onda che non sfrutti tali informazioni. L'elaborato, dunque, descrive la progettazione e la successiva sperimentazione di un filtro in guida mediante FSS, con cui si mostra come gli andamenti in frequenza del coefficiente di riflessione e di trasmissione dipendono dalla presenza di un campione dielettrico. Tale dipendenza permette di stabilire un legame tra costante dielettrica del materiale sotto test e misure sperimentali.
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